如何利用tem来研究界面结构和组成1透射电子显微镜透射电子显微镜摘要摘要摘要摘要透射电子显微镜(TEM)是将一束加速集中的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞改变方向，从而产生固体角散射 。
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1、哪位大侠可以解释一下,为什么SEM和TEM的图不一致呢?首先，你合成的粉末形状是否均匀？如果形状不一致，可能会有各种形状，比如球形杆 。在这种情况下，你说的可能会发生 。可以多拍些不同区域的照片看看 。其实SEM和TEM都像盲人摸象 ， 只能看到样品的局部形貌 。如果样片形状不够统一，很容易看出楼主说的 。视角不同吗？另外，你选择的尺度一致吗？如果尺度不一致，就可能出现你说的情况 。
2、如何利用 tem研究界面结构及成分1透射电子显微镜透射电子显微镜摘要摘要摘要摘要摘要透射电子显微镜(TEM)将一束加速并集中的电子束投射到一个非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞改变方向 ， 从而产生固体角散射 。散射角与样品的密度和厚度有关 ， 因此可以形成明暗不同的图像 。
透射电子显微镜特别适合于观察微细矿物、隐晶质矿物和超细粉体的形貌和结构分析，它确定了偏光显微镜分辨率低的不足 ， 克服了X射线衍射仪不能直接观察矿物形貌的困难 。透射电子显微镜在矿物加工和利用中有着重要的应用和前景 ， TEM以电子束为光源，电磁场为透镜 。此外，由于电子束的穿透力很弱，用于电子显微镜的标本必须制成超薄切片，厚度约为50nm 。
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