网络 分析仪测量 。要用相关的测试仪器,网络 分析仪,或者阻抗分析仪,等进行测试 , 网络 分析仪校准期间 , C-V测量的三种测量技术,目前半导体CV测试可以采用三种不同的测量技术:普通交流阻抗电容米 , 准静态,使用网络 分析仪或阻抗计测量晶体的谐振频率fr和谐振电阻R1(等效电阻) 。
1、单片机引脚阻抗测量方法单片机管脚阻抗的测量方法:1 。阻抗测量原则上有三种方法:(1)自动平衡电桥技术;(2)IV和RFIV技术;(3)透射/反射技术;2.从仪器类型来看,阻抗测量可以用三种类型的仪器来完成:(1)LCR表、LCR表和阻抗分析仪 RfIV或自动平衡电桥技术(2)阻抗分析仪(3)网络分析仪、网络 。
采用自动平衡电桥技术的LCR表又称LCR数字电桥,也是最便宜、最简单的阻抗测试仪器 。网络 分析仪主要用于通讯领域,其价格也是最贵的 。所谓阻抗测量 , 就是通过仪器获得被测元件的电阻(R)、电容(C)、电感(L)、品质因数(Q)、损耗因数(D)等信息,这些关系可以通过上图简洁地表达出来 。
2、怎么测量晶振的值晶振分为无源晶振和有源晶振 。有源晶体振荡器称为石英晶体振荡器,可以直接接在电源上,用频率计测量频率,用示波器测量幅度 。无源晶体振荡器称为石英晶体谐振器,其参数很多 。更简单的方法是装一个振荡电路,用频率计测量频率,用电阻法代替,等效得到晶体谐振电阻 。并用电容table电容直接测量晶体振荡器的静态 。但是由于振荡槽的不平衡,很难测出准确的数值 。用阻抗计测量 。
缺点阻抗表一般限制在几度以内,频率误差在5ppm左右 。由于支架电感的严重影响 , 串联谐振频率发生了很大的偏移,同时也干扰了负载谐振频率的正确测量 。另外,它的测量有一定的局限性,只能测量品质因数大于60的晶振 , 不能进行功率扫描和寄生扫描 。网络 分析仪测量 。分为专用型和通用型两种 。专用网络 分析仪设置简单,可以测量所有晶振参数,但不能使用 。
【网络分析仪如何测电容,阻抗分析仪测电容】
目前3、C-V测量的三种测量技术半导体CV测试可采用三种不同的电容测量技术:常用的交流阻抗电容米、准静态电容测量和射频技术(vector网络12344) 。接下来 , 我们将简要介绍每项技术 。1.交流阻抗的测量方法电容考虑参数用交流阻抗计测量晶体振荡器负载谐振频率的方法有很多种,直接阻抗法就是其中一种,它使用网络 分析仪,与物理负载相比电容等等 。在晶体振荡器参数的测量中,根据IEC444和EIA512测量Fs/Fr并不困难,因为Fs和Fr的阻抗相对较低 。主要问题在于负载谐振频率(FL)的测量 , 特别是在负载电容(CL)很低的情况下 。晶体振荡器的阻抗在负载谐振频率下相对较高 。用50ω网络分析仪测量高阻抗,要求测量设备具有较高的稳定性和精度 。总的来说,这个要求不现实 , 成本太高 。因此,技术人员开发了几种测量负载谐振频率的方法,如计算法和物理负载- 。
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