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跳线测试适配器

IT知识{dede:field

网络技术是从1990年代中期发展起来的新技术，它把互联网上分散的资源融为有机整体，实现资源的全面共享和有机协作，使人们能够透明地使用资源的整体能力并按需获取信息 。资源包括高性能计算机、存储资源、数据资源、信息资源、知识资源、专家资源、大型数据库、网络、传感器等 。当前的互联网只限于信息共享，网络则被认为是互联网发展的第三阶段 。新的更加严格的TIA标准以及Cat 5e/Class D和Cat 6/ Class E高速数据电缆系统对跳线的要求比以往任何时候都高 。现在福禄克网络提供最为方便的跳线测试手段 。简单地将坚固紧凑的跳线测试适配器连接到DSP- 4X00电缆分析仪并下载测试的数据库，你就有了高速，全自动，满足TIA标准的跳线测试手段 。改善误码率，提高通道的吞吐量，增加系统的余量，降低网络宕机时间－您将获得高额回报－这就是福禄克网络超级透视（Network SuperVision） 。
概述
快速检验跳线是否符合新的TIA 568B/ ISO标准
检查以前的跳线，隔离由于故障跳线造成的网络性能下降
测试跳线来确保整个通道的网络性能最优以及更大的系统余量
减小高级应用的错误 。这些应用使用多线对以及一个线对双向的传输
坚固耐用，性能可靠
美国Krone科龙公司认可证书
特点
验证与TIA标准的一致性
保持在新的TIA标准的最高点
跳线非常平常，但是考虑网络性能时又经常被忽略 。从一开始所有跳线的性能就不一样，新的跳线的性能会是不一致的 。并且很多跳线只测试了接线图而不是性能 。实际环境中它们是经常不断地插拔 。永久链路测试只说明安装的固定链路的性能，而不包括跳线 。虽然众所周知跳线的质量对网络性能有中大影响，但是到目前为止实际测试跳线却是费时费事费钱 。
福禄克网络的跳线测试测试解决方案就给您了简单，高效的手段来快速检验跳线是否符合TIA/ISO的性能标准：
自动测试，15秒完成用户和设备跳线的测试
高效精确地测试跳线是否符合TIA/ISO Cat 6/5e跳线标准
确保跳线性能符合安装的链路性能
测量所有跳线的关键参数：接线图，近端串扰（NEXT）和回波损耗（Return Loss）
可以信赖的坚固可靠的性能
功能强大的数据库
DSP-4000系列支持很多电缆的标准以及很多网络应用的物理层指标 。这些指标的测试参数指标以及测试限都存储在一个测试数据库中，它也可以单独软件升级 。
DSP跳线测试数据库可以快速下载并通过 LinkWare 电缆管理软件方便地安装到DSP-4000系列测试仪上 。跳线数据库也支持TIA和ISO链路以及通道的测试标准 。如果您正常地按照TIA或ISO的规定测试安装的电缆链路，永久链路或通道，那么就不需要重新设置测试仪 。
快速方便的测试
像测试链路一样方便地测试跳线
符合TIA标准的DSP跳线测试方案简单快捷 。一旦测试仪设置为跳线测试数据库并且测试适配器连接至主机和远端单元后，将跳线直接插入测试仪就可以立即开始测试 。在菜单中选择所需要的测试标准，将测试仪的选钮置于自动测试(AUTOTEST)按后按测试键 。大约15秒钟就可以知道跳线是否符合Cat 5e或Cat 6性能的规定 。
优化网络性能
因为新的TIA标准对跳线的要求更加严格，简单的连通性或接线图测试已经不够 。按一下按键，福禄克网络的DSP跳线测试解决方案就可以让你知道是否满足了最佳的TIA/ISO规定：
快速检验跳线是否满足新的TIA 568B标准
检查以前的跳线，从而排除了由于不合格跳线造成的网络性能下降，减少了宕机的时间
测试跳线确保通道吞吐量和系统的足够余量
减少高级应用的错误 。这些应用使用多线对以及一个线对双向的传输

技术指标
一般指标
DSP 跳线测试适配器满足Cat 6 跳线的TIA/EIA-568-B.2-1 和IEC 61935-2标准 。DSP跳线测试适配器由两个适配器组成，一个连接在DSP4X00测试仪的主机，一个连接在远端 。这些这测试适配器的插座满足 TIA/EIA-568-B.2-1的标准规定 。
测试参数
接线图，确保端接的正确性
近端串扰(NEXT) (单向)
回波损耗(单向)
通过/失败测试门限
T跳线测试数据库包含了通过/失败测试限，其标准是：
【跳线测试适配器】TIA/EIA-568-B.2-1，Cat 5e和Cat 6
ISO/IEC 11801-2002 Cat 5 和Cat 6
跳线测试数据库包括了下列长度限：0.5，1，1.5，2，2.5，3，4，5，7.5，10，15，和20米 。
DSP-PCI-6S 跳线测试适配器测试门限值一览表
测量精度
测量的精度是根据标准TIA/EIA-568-B.2-1和IEC 61935-1s的指导原则计算得出的 。典型的精度是基于获得的性能参数数据并且大大优于三级精度的要求 。它不包括由于测试适配器的变化所引起的性能变化 。

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