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eds数据分析,EDS数据分析

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eds重量比或原子比eds重量比或原子比都可以 。EDS的分析结果中会有原子比(atomic%)和元素比(即质量比，重量%)的数据 ， 这里要提醒大家的是 ， EDS分析并没有那么准确，所以虽然分析报告的结果会有两位小数 ， 但是只取一位小数就够了 。

1、表面成分太少,SEM的EDS测不出来,那还能用什么设备能测呢?用ICP看一下pwang526(站内接触TA)，貌似XPS精度不够的幼煮(站内接触TA)也很贵:rol:dafeng001(站内接触TA)看lz在测什么元素，EDS测轻元素不准确 。如果有时候有新的阶段，XRD就做 ， 能挂下来就做 。当然，也可以看你想测什么元素 。总之lz给的信息太少了 。宋金龙(站内联系TA)已经氟化，想测OCFSisongjinlong(站内联系TA) 。原lypostedbydafeng 001 at 2011 03 04 15:42:14:我认为OFSi的内容是微量的 。现在想用电子探针测一下 。你觉得可以吗？电子探针和EDS的区别不是太大 。这是半定量的 。我们非常需要这些数据 。让我们做一个元素分析 。夏雪_326(联系站内TA)尝试FTIR和红外测试，这也表征了成分 。

2、EDS的原子百分比和所得的化学式EDS不能用于定量，ICP最好，XPS比EDS好 。EDS不能测量氢元素 ， 用EDS分析材料微区组成元素的种类和含量，配合扫描电镜和透射电镜 。EDS的分析结果中会有原子比(atomic%)和元素比(即质量比，重量%)的数据 。这里要提醒大家的是，EDS分析并没有那么准确 ， 所以虽然分析报告的结果会有两位小数，但是只取一位小数就够了 。

3、JEM2010主要附件:能量散射X射线分析系统(EDS亚显微镜的现状与展望摘要:本文简要介绍了电子显微镜的现状与展望 。透射电镜主要包括:高分辨电子显微术和原子图像观察、像差校正电子显微术、原子尺度电子全息术、表面的高分辨电子显微术正面成像、超高压电子显微术、中压电子显微术、120kV、100kV分析电子显微术、场发射枪扫描透射电子显微术和能量选择电子显微术等 。透射电镜将再次面临新的重大突破；扫描电镜主要包括:分析型扫描电镜和X射线能谱仪、X射线能谱仪和电子探针仪、场发射枪扫描电镜和低压扫描电镜、超大样品室扫描电镜、环境扫描电镜、扫描电声显微镜、长度测量/缺陷检测用扫描电镜、晶向成像用扫描电镜和计算机控制扫描电镜 。

4、EBSD分析(electronbackscatterdiffractionEBSD是电子背散射衍射 。EBSD的原理始于20世纪50年代，技术在80年代问世 。EBSD是扫描电子显微镜(SEM)的标准分析附件 ， 但它大大拓宽了SEM的微观分析功能 。可以和SEM的其他功能(包括EDS和其他附件)结合使用，如原位成像、成分分析、大样品分析、粗糙表面成像等 。克服了传统分析方法的一些缺陷 。EBSD系统主要由背散射探测器、高灵敏度CCD数码相机、图像采集卡、计算机分析软件和数据库组成(图72) 。

计算机自动识别和校准采集的图像，并与标准数据库进行比较，从而获得晶体颗粒的晶体学信息 。EBSD体系直接将微观结构与晶格结构(或结晶学)联系起来 。确定主取向颗粒组中单晶颗粒的取向；校准晶粒的基本几何属性参数；在超微观尺度上获得大量关于晶体空间元素包括晶体界面性质的信息 。

5、 eds看重量比还是原子比 eds值比或原子比都可以 。根据相关公开资料，通常以简单实质的形式给出报告 。在结果中，一列表示重量百分比，一列表示原子序数百分比 ， 即摩尔比 。两者可以互换计算，桥就是原子量 。重量比和原子比在数据的重要性上同等重要，所以无论看哪个都是一样的 。

6、 eds和点扫区别如果要分析材料微观区域的组成元素的种类和含量，往往有很多方法 ， 能谱是我们最常用的手段 。能谱具有操作简单、分析速度快、结果直观的特点 。最重要的是它的价格比高倍电子显微镜低，所以能谱已经成为目前电子显微镜的标准 。能谱EDS的采样深度约为1μm，可以分析样品微区Be~U范围内的元素 。根据扫描方式的不同，可分为点扫描、线扫描、面扫描 。
【eds数据分析,EDS数据分析】点扫描能给出扫描元素的相对含量，测试精度高 ， 常用于显微组织的成分分析 。表面扫描是观察元素在样品某一区域的分布，EDS点扫描EDS点分析是将电子束固定在样品中的某一点进行定性或定量分析 。如图1，有能谱点扫描给出的峰型图，每个元素在图中都有一个峰值，从这个峰值可以看到样本中包含的元素 。同时会相应给出表1所示的元素相对含量表 ， 表中数据显示了相对质量分数、相对原子分数和误差 。误差越大，元素相对含量的可靠性越低 。

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